Het meettoestel Reflex kan geslepen diamanten meten met verbeterde nauwkeurigheid in vergelijking met de huidige
commerciële apparaten. De commercieel beschikbare systemen voor het meten van de verhoudingen van de geslepen
stenen gebruiken alle een projectie van het profiel (schaduwmethode) voor het scannen van de diamant. De diamant
wordt gedraaid tussen een telecentrische lichtbron en een telecentrische lens. De omtrek van de schaduw van de
diamant wordt vervolgens geanalyseerd in een computer om de verhoudingen te bepalen. Deze methode heeft een aantal
typische nadelen betreffende nauwkeurigheid. Experimenten hebben aangetoond dat hogere nauwkeurigheden mogelijk zijn.
Hoeken (helling en index) kunnen worden gemeten met nauwkeurigheden maximaal ±0.02º. De afstanden kunnen worden
gemeten met submicron nauwkeurigheid. Het apparaat wacht op een goedkeuring om te worden gebruikt als een
gecertificeerde standaard meettoestel voor proportiemeting van diamanten.
Technische adviseur Ing. Guy van Goethem, WTOCD