WTOCDHome | Contact | Locatie | Info WTOCD
  
  
Geslepen analyse

Meten van geslepen diamanten
Het meettoestel Reflex kan geslepen diamanten meten met verbeterde nauwkeurigheid in vergelijking met de huidige commerciële apparaten. De commercieel beschikbare systemen voor het meten van de verhoudingen van de geslepen stenen gebruiken alle een projectie van het profiel (schaduwmethode) voor het scannen van de diamant. De diamant wordt gedraaid tussen een telecentrische lichtbron en een telecentrische lens. De omtrek van de schaduw van de diamant wordt vervolgens geanalyseerd in een computer om de verhoudingen te bepalen. Deze methode heeft een aantal typische nadelen betreffende nauwkeurigheid. Experimenten hebben aangetoond dat hogere nauwkeurigheden mogelijk zijn. Hoeken (helling en index) kunnen worden gemeten met nauwkeurigheden maximaal ±0.02º. De afstanden kunnen worden gemeten met submicron nauwkeurigheid. Het apparaat wacht op een goedkeuring om te worden gebruikt als een gecertificeerde standaard meettoestel voor proportiemeting van diamanten.
Contact
Technische adviseur Ing. Guy van Goethem, WTOCD